Investigation of a memory effect in a Au/(Ti–Cu)Ox-gradient thin film/TiAlV structure

被引：0

作者：

Wojcieszak, Damian ^{[1
]}

Domaradzki, Jaroslaw ^{[1
]}

Mazur, Michal ^{[1
]}

Kotwica, Tomasz ^{[1
]}

Kaczmarek, Danuta ^{[1
]}

机构：

[1] Wroclaw University of Science and Technology, Faculty of Electronics, Photonics and Microsystems, 11/17, Janiszewskiego, Wroclaw,50-372, Poland

来源：

Beilstein Journal of Nanotechnology | 2022年 / 13卷

关键词：

Number:; 2018/29/B/ST8/00548; Acronym:; NCN; Sponsor: Narodowe Centrum Nauki;

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

Thin films

引用

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