Development of high-resolution imaging of solid-liquid interface by frequency modulation atomic force microscopy

被引：0

作者：

JEOL Ltd., Akishima, Tokyo 196-8558, Japan ^{[1
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机构：

来源：

Jpn. J. Appl. Phys. | / 8 PART 4卷

关键词：

D O I：

08LB12

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

Air conditioning - Liquids - Frequency modulation - Polypropylenes - Q factor measurement - Phase interfaces

引用