System dynamic reliability of multi-degree-of-freedom stochastic structure under stationary random response

被引：0

作者：

Hu, Taibin ^{[1
]}

Chen, Jianjun ^{[1
]}

Wang, Xiaobing ^{[1
]}

Jiang, Peigang ^{[1
]}

机构：

[1] School of Electromechanical Engineering, Xidian University, Xi'an 710071, China

来源：

Yingyong Lixue Xuebao/Chinese Journal of Applied Mechanics | 2006年 / 23卷 / 04期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

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