Noise characterization in a CMOS 0.6-μm PPS image sensors system

被引：0

作者：

LISIF, SYEL, University Pierre et Marie Curie - Paris 6, 3 rue Galilee, 94200 Ivry-sur-Seine, France ^{[1
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不详 ^{[2
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机构：

来源：

WSEAS Trans. Circuits Syst. | 2006年 / 7卷 / 877-886期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用