Influence of microstructure on the stability of microcrystalline Si thin films

被引：0

作者：

Zhao, Zhi-Wen ^{[1
,2
]}

Liu, Yu-Ling ^{[1
]}

机构：

[1] School of Information Engineering, Hebei University of Technology, Tianjin 300130, China

[2] School of Electronic Engineering, Tianjin University of Technology and Education, Tianjin 300222, China

来源：

Guangdianzi Jiguang/Journal of Optoelectronics Laser | 2011年 / 22卷 / 09期

关键词：

Compendex;

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

Thin films

引用

页码：1364 / 1366