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Test automation technology to reduce development costs and maintain software quality
被引：0
作者：
机构：
[1] Tanno, Haruto
[2] Zhang, Xiaojing
[3] Tabata, Keiichi
[4] Oinuma, Morihide
[5] Suguri, Kazuhito
来源：
|
1600年
/
Nippon Telegraph and Telephone Corp.卷
/
12期
关键词：
Integration testing;
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
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