Port recognition in high resolution remote sensing images based on feature spectrum

被引：0

作者：

Zhang, Zhi-Long ^{[1
]}

Zhang, Yan ^{[1
]}

Shen, Zhen-Kang ^{[1
]}

机构：

[1] ATR Key Lab., School of Electronic Science and Engineering, NUDT, Hunan Changsha 410073, China

来源：

Tien Tzu Hsueh Pao/Acta Electronica Sinica | 2010年 / 38卷 / 09期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

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