Constant-step stress accelerated life test of VFD under logarithmic normal distribution case

被引:0
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作者
School of Computer and Information Eng., Shanghai Univ. of Electric Power, Shanghai 200090, China [1 ]
不详 [2 ]
机构
来源
J. Shanghai Jiaotong Univ. Sci. | 2006年 / 1卷 / 14-17期
关键词
Display devices;
D O I
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