TOFD of rods: Application of time of flight diffraction technique for imaging cracks in rod specimens

被引：0

作者：

Quality Assurance Division, Indira Gandhi Centre for Atomic Research, Kalpakkam 603 102, India ^{[1
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不详 ^{[2
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不详 ^{[3
]}

不详 ^{[4
]}

机构：

[1] Abraham, Saju T.

[2] Venkatraman, B.

[3] Raj, Baldav

[4] Chetal, S.C.

来源：

| 1600年 / American Society for Nondestructive Testing卷 / 71期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用