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被引：0

作者：

Craninckx, Jan ^{[1
]}

机构：

[1] Imec, Leuven, Belgium

来源：

IEEE Journal of Solid-State Circuits | 2016年 / 51卷 / 08期

关键词：

D O I：

10.1109/JSSC.2016.2586339

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

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