Contrast in transmission X-ray diffraction topographs of growth defects in the core of SrLaGaO4 single crystals

被引：0

作者：

Institute of Electronic Materials Technology, Wólczyn´ska 133, Warsaw, 01-919, Poland ^{[1
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不详 ^{[2
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不详 ^{[3
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不详 ^{[4
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机构：

[1] [1,Malinowska, Agnieszka

[2] Lefeld-Sosnowska, Maria

[3] Härtwig, Jürgen

来源：

Malinowska, A. (agnieszka.malinowska@itme.edu.pl) | 1600年 / International Union of Crystallography, 5 Abbey Road, Chester, CH1 2HU, United Kingdom卷 / 46期

关键词：

25;

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

Journal article (JA)

引用