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Diagnose der Life-Cycle-Belastungen von Baugruppen in der Kfz-Elektronik mit Hilfe Mikrosystemtechnischer Sensoren
被引：0
|作者：
Universität Freiburg
[1
]
机构：
来源：
VDI Ber.
|
2008年
/
2011卷
/
939-949期
关键词：
Electronic equipment;
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
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页码：939 / 949
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