Bidirectional reflectance distribution function and surface roughness characterization of transparent substrates

被引：0

作者：

Pan, Yong-Qiang ^{[1
,2
]}

Wu, Zhen-Sen ^{[1
]}

机构：

[1] School of Science, Xidian University, Xi'an 710071, China

[2] School of Photoelectric Engineering, Xi'an Technological University, Xi'an 710032, China

来源：

Guangzi Xuebao/Acta Photonica Sinica | 2008年 / 37卷 / 06期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

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