Measuring method for topography of DOE based on dual-path two-wavelength phase shifting interferometric microscopy

被引：0

作者：

Zhou, Mingbao ^{[1
]}

Lin, Dajian ^{[1
]}

Bai, Linbo ^{[1
]}

机构：

[1] Inst of Optics and Electronics, Chinese Acad of Sciences, Chengdu, China

来源：

Guangxue Xuebao/Acta Optica Sinica | 2000年 / 20卷 / 06期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

(Edited Abstract)

引用

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