Thickness and coupling effects in bilayered multiferroic CoFe 2O4/Pb (Zr0.52Ti0.48)O3 thin films

被引：0

作者：

Sim, C.H. ^{[1
]}

Pan, A.Z.Z. ^{[1
]}

Wang, J. ^{[1
]}

机构：

[1] Department of Materials Science and Engineering, Faculty of Engineering, National University of Singapore, Singapore 117574, Singapore

来源：

| 1600年 / American Institute of Physics Inc.卷 / 103期

关键词：

D O I：

暂无

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摘要：

引用