At-speed current test for testing AT89C51 microprocessors

被引：0

作者：

Xun, Qinglai ^{[1
]}

Kuang, Jishun ^{[1
]}

Min, Yinghua ^{[2
]}

机构：

[1] College of Computer and Communication, Hunan University, Changsha 410082, China

[2] Institute of Computing Technology, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100080, China

来源：

Jisuanji Yanjiu yu Fazhan/Computer Research and Development | 2007年 / 44卷 / 03期

关键词：

13;

D O I：

10.1360/crad20070317

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

页码：479 / 486