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Mapping model validation metrics to subject matter expert scores for model adequacy assessment
被引：0
作者：
机构：
[1] Teferra, Kirubel
[2] Shields, Michael D.
[3] Hapij, Adam
[4] Daddazio, Raymond P.
来源：
Teferra, K. (kteferr1@jhu.edu)
|
1600年
/
Elsevier Ltd卷
/
132期
关键词：
Compendex;
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
Neural networks
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