In-plane X-ray diffraction profiles from organosilane monolayer/SiO 2 models

被引：0

作者：

Graduate School of Science and Engineering, Waseda University, 3-4-1 Ohkubo, Shinjuku, Tokyo 169-8555, Japan ^{[1
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机构：

来源：

Appl. Phys. Express | / 10卷 / 1050021-1050023期

关键词：

Compendex;

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

Monte Carlo methods - Molecules - Intelligent systems - Topology - X ray diffraction - Silica

引用