Fast signal predictions of noised signals in eddy current testing

被引：29

作者：

Huang, Haoyu ^{[1
]}

Takagi, Toshiyuki ^{[1
]}

Fukutomi, Hiroyuki ^{[1
]}

机构：

[1] Tohoku Univ, Sendai, Japan

来源：

IEEE Transactions on Magnetics | 2000年 / 36卷 / 4 I期

关键词：

D O I：

10.1109/20.877774

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

Eddy current testing

引用

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页码：1719 / 1723

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