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A BIST scheme for multiple scan chains based on folding computing
被引：0
作者：
机构：
[1] Liang, Huaguo
[2] 2,Li, Yang
[3] Li, Xin
[4] Yi, Maoxiang
[5] Wang, Wei
[6] Chang, Hao
[7] Li, Songkun
来源：
Li, Y. (leentsm@126.com)
|
1600年
/
Institute of Computing Technology卷
/
25期
关键词：
Compendex;
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
Built-in self test
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