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Accuracy counts in modeling TCAD's future: Device and process simulation find intelligence on the World Wide Web
被引：2
作者：
机构：
来源：
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2000年
/
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.卷
/
19期
关键词：
D O I：
10.1109/45.876892
中图分类号：
学科分类号：
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