Micro-magnetic and electric analysis on MR head baseline popping and instabilities

被引：8

作者：

Chen, L. ^{[1
]}

Chen, E. ^{[1
]}

Giusti, J. ^{[1
]}

Fernandez-de-Castro, J. ^{[1
]}

Saunders, D. ^{[1
]}

机构：

[1] Seagate Technology, LLC, Bloomington, MN 55435, United States

来源：

关键词：

Baseline popping - Telegraph noise;

D O I：

10.1109/20.950836

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

页码：1343 / 1345