Novel large-area high-resolution-transmission-electron-microscopy technique using specimens fabricated by a focused ion beam apparatus

被引：0

作者：

机构：

[1] [1,Suematsu, Hisayuki

[2] Udo, Koichi

[3] Hisatsune, Kunihiro

[4] Yatsui, Kiyoshi

[5] Yamauchi, Hisao

来源：

Suematsu, H. (suematsu@nagaokaut.ac.jp) | 1600年 / Japan Society of Applied Physics卷 / 40期

关键词：

D O I：

暂无

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摘要：

引用