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Prediction of High-Speed Oscillator Frequency Drift Under Package Level Reliability Tests
被引：0
作者：
机构：
[1] Wang, Ming-Han
[2] Xiao, Christine
[3] Liu, Chien
[4] Hashemi, Hassan
来源：
|
1600年
/
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.卷
关键词：
Reliability;
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
Conference article (CA)
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