Comparative study on structural properties of poly(3-hexylthiophene) and poly(3-hexylthiophene):6,6-phenyl-C6i butyric acid methyl ester thin films using synchrotron X-ray diffraction

被引：0

作者：

Institute of Applied Physics, University of Tsukuba, 1-1-1 Tennodai, Tsukuba, lbaraki 305-8573, Japan ^{[1
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机构：

来源：

Jpn. J. Appl. Phys. | / 1 Part 2卷

关键词：

Number:; 22340086; Acronym: [!text type='JS']JS[!/text]PS; Sponsor: Japan Society for the Promotion of Science;

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

X ray diffraction

引用