Scanning wire beam position monitor for alignment of a high brightness inverse-compton X-ray source

被引：0

作者：

Hadmack, M.R. ^{[1
]}

Szarmes, E.B. ^{[1
]}

机构：

[1] University of Hawai'i, Free-Electron Laser Laboratory, Honolulu,HI,96822, United States

来源：

IBIC 2013: Proceedings of the 2nd International Beam Instrumentation Conference | 2013年

关键词：

535.2 Metal Forming - 744.1 Lasers; General - 744.5 Free Electron Lasers - 744.8 Laser Beam Interactions;

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

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