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Patent licensing through negotiations
被引：0
作者：
Muto, Shigeo
[1
]
Nakayama, Mikio
[1
]
Quintas, Luis
[1
]
机构：
[1] Tohoku Univ, Sendai, Japan
来源：
Modelling, Measurement and Control D
|
2000年
/
21卷
/
1-2期
关键词：
D O I：
暂无
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学科分类号：
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