GOODNESS of FIT TESTS for RAYLEIGH DISTRIBUTION

被引：0

作者：

Vaisakh, K.M. ^{[1
]}

Xavier, Thomas ^{[2
,3
]}

Sreedevi, E.P. ^{[1
]}

机构：

[1] St. Thomas College, Thrissur, India

[2] Indian Statistical Institute, Delhi, India

[3] Maharaja's College, Ernakulam, India

来源：

arXiv | 2022年

关键词：

Compendex;

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

Intelligent systems - Statistical tests - Statistics

引用