On-Chip Multi-Giga Bit Cycle-to-Cycle Jitter Measurement Circuit

被引：33

作者：

Zhang, Jingkai ^{[1
]}

Lee, Chung Len ^{[2
]}

Tian, Chao ^{[1
]}

Yu, Fei ^{[1
]}

机构：

[1] Institute of Microelectronics, Peking University Shenzhen Graduate School Shenzhen, 518055, China

[2] Department of Electronics Engineering, National Chiao Tung University, Hsin Chu, Taiwan

来源：

Tsinghua Science and Technology | 2007年 / 12卷 / SUPPL. 1期

关键词：

D O I：

10.1016/S1007-0214(07)70001-9

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

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