Microelectronics Reliability: Editorial

被引：0
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作者：
Anderson, W.T.
Menozzi, R.
机构：
[1] Naval Research Laboratory, Washington, DC, United States
[2] Dipartimento di Ingegneria dell Informazione, Universita degli Studi di Parma Parco Area delle Scienze, 181/A I-43100 Parma, Italy
来源：
Microelectronics Reliability | 2001年 / 41卷 / 08期
关键词：
D O I：
10.1016/S0026-2714(01)00080-4
中图分类号：
学科分类号：
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