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Etude comparative des parametres fractals des surfaces par reflectometrie des rayons X et microscopie a force atomique
被引：0
作者：
机构：
[1] Knoll, A.
[2] Arnault, J.C.
[3] Smigiel, E.
[4] Broll, N.
[5] Cornet, A.
来源：
Knoll, A.
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2000年
/
Editions de Physique, Les Ulis Cedex A卷
/
10期
关键词：
D O I：
10.1051/jp4:20001025
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
(Edited Abstract)
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