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Summary of integrated diagnostics and prognostics method based on testability for electronic system
被引：0
作者：
机构：
[1] Deng, Sen
[2] Jing, Bo
来源：
Deng, S. (425931056@qq.com)
|
1600年
/
Northeast University卷
/
28期
关键词：
Compilation and indexing terms;
Copyright 2024 Elsevier Inc;
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
Health - Fault detection - Signal processing - Systems engineering
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