Similarity measures for automatic defect detection on patterned textures

被引：0

作者：

Department of Computer Applications, New Horizon College of Engineering, Outer Ring Road, Bangalore - 560 103, Karnataka, India ^{[1
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机构：

来源：

Int. J. Inf. Commun. Technol. | 1600年 / 2-4卷 / 118-131期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

Defects

引用