Structures and optical properties of defects correlated with photo-induced refractive index changes in Ge-doped SiO2 glass

被引：0

作者：

Fujimaki, Makoto ^{[1
]}

Ohki, Yoshimichi ^{[1
]}

机构：

[1] Dept. Elec., Electronics, Comp. Eng., Waseda University, 3-4-1 Ohkubo, Shinjuku-ku, Tokyo 169-8555, Japan

来源：

Diffusion and Defect Data. Pt A Defect and Diffusion Forum | 2000年 / 177卷

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

页码：43 / 50