Temperature dependence of the density fluctuations of silica by small-angle X-ray scattering

被引:0
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作者
Le Parc, R. [1 ]
Champagnon, B. [1 ]
David, L. [2 ]
Faivre, A. [3 ]
Levelut, C. [3 ]
Guenot, Ph. [4 ]
Hazemann, J.L. [5 ]
Rochas, C. [6 ]
Simon, J.P. [7 ]
机构
[1] Laboratoire de Physico-Chimie des Matériaux Luminescents, Unité Mixte de Recherche associée au CNRS 5620, Université Claude Bernard Lyon 1, 12 rue Ampère, Domaine Scientifique de la Doua, 69622 Villeurbanne Cedex, France
[2] Groupe d'Étude de Métallurgie Physique et de Physique des Matériaux, Unité Mixte de Recherche associée au CNRS 5510, Institut National des Sciences Appliquées, Lyon, 69622 Villeurbanne Cedex, France
[3] Laboratoire des Verres, Bâtiment 13, Université Montpellier II, place E. Bataillon, cc69, 34095 Montpellier Cedex, France
[4] Alcatel, Recherche et Développement Fibres Optiques, 53 rue Jean Broutin, 78700 Conflans Sainte Honorine, France
[5] European Synchrotron Radiation Facility and Laboratoire de Cristallographie, CNRS, 25 avenue des Martyrs, 38042 Grenoble Cedex 9, France
[6] European Synchrotron Radiation Facility and Laboratoire de Spectrometrie Physique, Unité Mixte de Recherche associée au CNRS 5588, Université Joseph Fourier Grenoble 1, 140 avenue de la Physique, 38402 Saint Martin d'Hérès, France
[7] Europ. Synchrt. Radiat. Facil. and Lab. de Thermodyn. et Physchim. Metall., CNRS, Institut National Polytechnique, BP 75, 38402 St. Martin d'Hérès, France
关键词
D O I
10.1080/13642810110O84605
中图分类号
学科分类号
摘要
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