Analysis of angular dependence of proton-induced multiple-bit upsets in a synchronous SRAM

被引:0
作者
Japan Aerospace Exploration Agency, Tsukuba, Ibaraki 305-8505, Japan [1 ]
不详 [2 ]
机构
来源
| 1600年 / 2200-2204卷 / December 2005期
关键词
Compendex;
D O I
暂无
中图分类号
学科分类号
摘要
Protons - Transistors
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