Resonant photoemission spectroscopic studies of SnO2 thin films

被引：0

作者：

机构：

[1] Kumar, Sunil

[2] Chauhan, R.S.

[3] Panchal, Gyanendra

[4] Singh, C.P.

[5] Dar, Tanveer A.

[6] Phase, D.M.

[7] Choudhary, R.J.

来源：

Chauhan, R.S. (rvschauhan@yahoo.com) | 1600年 / American Institute of Physics Inc.卷 / 122期

关键词：

Oxide minerals - Pulsed laser deposition - Photoemission - Spectroscopic analysis - Valence bands - Silicon compounds - Binding energy - Photons - Electronic properties - Substrates - Titanium dioxide - Core levels - Tin;

D O I：

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