Fragment ion distribution in charge-changing collisions of 2-MeV Si ions with C60

被引：0

作者：

Itoh, A. ^{[1
]}

Tsuchida, H. ^{[1
]}

Miyabe, K. ^{[1
]}

Majima, T. ^{[1
]}

Nakai, Y. ^{[1
]}

机构：

[1] Quantum Science and Engineering Ctr., Kyoto University, Kyoto 606-8501, Japan

来源：

Physical Review A. Atomic, Molecular, and Optical Physics | 2001年 / 64卷 / 03期

关键词：

Charge-changing collisions - Degree of multiple ionization - Electron loss collision - Electronic energy deposition - Fragment ion distribution - Time of flight coincidence;

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

(Edited Abstract)

引用

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