未找到相关数据
Phase-field modeling of stress-induced surface instabilities in heteroepitaxial thin films
被引：0
作者：
机构：
[1] Seol, D.J.
[2] 1,Hu, S.Y.
[3] Liu, Z.K.
[4] Chen, L.Q.
[5] 2,Kim, S.G.
[6] Oh, K.H.
来源：
|
1600年
/
American Institute of Physics Inc.卷
/
98期
关键词：
Thin films;
D O I：
暂无
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
引用
收藏
相关论文