Analysis and performance of a smart, high-voltage SENSFET

被引：0

作者：

Li, Zehong ^{[1
,2
]}

Wang, Xiaosong ^{[1
]}

Wang, Yiming ^{[1
]}

Yi, Kun ^{[1
]}

Zhang, Bo ^{[1
]}

Li, Zhaoji ^{[1
]}

机构：

[1] State Key Laboratory of Electronic Thin Films and Integrated Devices, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054, China

[2] No.24 Research Institute, CETC, Chongqing 400060, China

来源：

Pan Tao Ti Hsueh Pao/Chinese Journal of Semiconductors | 2007年 / 28卷 / 12期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

页码：1961 / 1966