The 12th IEEE international conference on anti-counterfeiting, security, and identification

被引：0
|
作者：
He, Shan [1 ]
机构：
[1] Department of Electronic Engineering, Xiamen University, Xiamen Fujian, China
来源：
Proceedings of the International Conference on Anti-Counterfeiting, Security and Identification, ASID | 2019年 / 2018-November卷
关键词：
D O I：
10.1109/ICASID.2018.8693121
中图分类号：
学科分类号：
摘要：
引用
收藏
相关论文
共 50 条
12345