XPS monitoring of SrVO3 thin films from demixing to air ageing: The asset of treatment in water

被引：0

作者：

Bourlier, Yoan ^{[1
,2
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Frégnaux, Mathieu ^{[1
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Bérini, Bruno ^{[2
]}

Fouchet, Arnaud ^{[3
]}

Dumont, Yves ^{[2
]}

Aureau, Damien ^{[1
]}

机构：

[1] ILV, CNRS, UMR 8180, Université de Versailles Saint-Quentin-en-Yvelines – Université Paris-Saclay, Versailles, France

[2] GEMaC, Université Paris-Saclay, CNRS & Université de Versailles Saint-Quentin-en-Yvelines, UMR 8635, Versailles, France

[3] NORMANDIE UNIV, ENSICAEN, UNICAEN, CNRS, CRISMAT, Caen, France

来源：

Applied Surface Science | 2021年 / 553卷

关键词：

Compendex;

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

X ray photoelectron spectroscopy

引用