REFICS: Assimilating Data-Driven Paradigms into Reverse Engineering and Hardware Assurance on Integrated Circuits

被引：0

作者：

Wilson, Ronald ^{[1
]}

Lu, Hangwei ^{[1
]}

Zhu, Mengdi ^{[1
]}

Forte, Domenic ^{[1
]}

Woodard, Damon L. ^{[1
]}

机构：

[1] Florida Institute for Cybersecurity Research (FICS), University of Florida, Gainesville,FL, United States

来源：

关键词：

Scanning electron microscopy;

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

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