Improving PCB defect detection using selective feature attention and pixel shuffle pyramid (vol 21, 101992, 2024)

被引：0

作者：

Fung, Ka Chun ^{[1
,2
]}

Xue, Kai-Wen ^{[2
]}

Lai, Cheung-Ming ^{[2
]}

Lin, Kwan-Ho ^{[2
]}

Lam, Kin-Man ^{[1
,2
]}

机构：

[1] Hong Kong Polytech Univ PolyU, Hong Kong, Peoples R China

[2] Ctr Adv Reliabil & Safety Ltd CAiRS, Hong Kong, Peoples R China

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/j.rineng.2024.102045

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页数：1