MEASUREMENT OF ELECTRON-BEAM DIAMETER FLUCTUATED BY AC MAGNETIC-FIELD

被引：0

作者：

YOSHIDA, K ^{[1
]}

TAKAOKA, A ^{[1
]}

URA, K ^{[1
]}

FUJITA, H ^{[1
]}

机构：

[1] OSAKA UNIV,FAC ENGN,SUITA,OSAKA 565,JAPAN

来源：

JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY | 1990年 / 39卷 / 01期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

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页数：2

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