TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPE OBSERVATION OF DARK-SPOT DEFECTS IN INGAASP-INP DOUBLE-HETEROSTRUCTURE LIGHT-EMITTING-DIODES AGED AT HIGH-TEMPERATURE

被引：28
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作者：
UEDA, O
YAMAKOSHI, S
KOMIYA, S
AKITA, K
YAMAOKA, T
机构：
来源：
APPLIED PHYSICS LETTERS | 1980年 / 36卷 / 04期
关键词：
D O I：
10.1063/1.91469
中图分类号：
O59 [应用物理学];
学科分类号：
摘要：
引用
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页码：300 / 301
页数：2
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