A METHOD FOR DETERMINING OPTICAL CONSTANTS AND THICKNESS OF DIELECTRIC FILMS

被引：0
作者：
GISIN, MA
KONYUKHO.GP
NESMELOV, EA
机构：
来源：
OPTICS AND SPECTROSCOPY-USSR | 1969年 / 26卷 / 02期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
O43 [光学];
学科分类号：
070207 ; 0803 ;
摘要：
引用
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页码：162 / &
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[1]  
[Anonymous], 1991, OPTICAL PROPERTIES T
[2]  
GISIN MA, 1967, OPTIKA SPEKTROSKOPIY, V26, P301
[3]   OPTICAL CONSTANTS OF EVAPORATED SELENIUM FILMS BY SUCCESSIVE APPROXIMATIONS [J].
KOEHLER, WF ;
ODENCRANTZ, FK ;
WHITE, WC .
JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA, 1959, 49 (02) :109-115
[4]  
Lyashenko S. P., 1964, OPT SPEKTROSK, V16, P80
[5]  
LYASHENKO SP, 1964, OPT SPEKTROSK+, V16, P151
[6]  
METFESSEL S, 1963, THIN FILMS PREPARATI
[7]  
Moss T.S., 1959, OPTICAL PROPERTIES S
[8]  
ROZENBERG GV, 1958, OPTICS THIN FILMS
[9]  
Valeev AS., 1963, Opt. Spectrosc, V15, P269
[10]  
VALEYEV AS, 1963, OPT SPEKTROSK+, V15, P500
1