FATIGUE FAILURE OF ENCAPSULATED GOLD-BEAM LEAD AND TAB DEVICES

被引:9
作者
DAIS, JL
HOWLAND, FL
机构
来源
IEEE TRANSACTIONS ON COMPONENTS HYBRIDS AND MANUFACTURING TECHNOLOGY | 1978年 / 1卷 / 02期
关键词
D O I
10.1109/TCHMT.1978.1135265
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
摘要
引用
收藏
页码:158 / 166
页数:9
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