FATIGUE FAILURE OF ENCAPSULATED GOLD-BEAM LEAD AND TAB DEVICES

被引：9

作者：

DAIS, JL

HOWLAND, FL

机构：

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON COMPONENTS HYBRIDS AND MANUFACTURING TECHNOLOGY | 1978年 / 1卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1109/TCHMT.1978.1135265

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：158 / 166

页数：9

共 17 条

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