RESOLUTION AND CONTRAST IN CONVENTIONAL AND SCANNING HIGH-RESOLUTION TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPES

被引：0

作者：

THOMSON, MGR ^{[1
]}

机构：

[1] MIT,RES LAB ELECTR,CAMBRIDGE,MA

来源：

OPTIK | 1973年 / 39卷 / 01期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：15 / 38

页数：24

共 33 条

[1]

ANDERSEN WHJ, 1972, 5 P EUR C EL MICR, P396

[2]

Born M., 1959, PRINCIPLES OPTICS

[3]

Byatt W. J., 1956, PHYS REV, V104, P1298

[4]

Castaing R., 1964, J MICROSCOPIE, V3, P133

[5]

COSSLETT VE, 1972, OPTIK, V36, P85

[6] IMAGE CONTRAST IN A TRANSMISSION SCANNING ELECTRON MICROSCOPE [J].

COWLEY, JM .

[7]

Crewe A. V., 1970, Optik, V30, P461

[8] A SCANNING MICROSCOPE WITH 5 A RESOLUTION [J].

CREWE, AV ;

WALL, J .

[9] HIGH-RESOLUTION SCANNING ELECTRON MICROSCOPE [J].

CREWE, AV .

[10]

CREWE AV, 1970, BERICH BUNSEN GESELL, V74, P1181